POM均聚 漏电起痕指数(解决方案A)

  • POM均聚 漏电起痕指数(解决方案A)
  • 专注供应良好的抗蠕变性、抗紫外线、降噪、成核的、快的成型周期POM均聚,美国普立万、美国EnCom、巴西Petropol、沙伯基础、Generic等等厂家生产的POM均聚.POM均聚 漏电起痕指数(解决方案A)数据请参看下表,其中良好的抗蠕变性、抗紫外线、降噪、成核的、快的成型周期POM均聚等不同特性的POM均聚漏电起痕指数(解决方案A)的值均有区分.
  • POM均聚 漏电起痕指数(解决方案A) 对比表(部分)
厂家及牌号试验条件测试方法漏电起痕指数(解决方案A)
POM均聚 德国pal PALFORM® R H 50
(抗撞击性高,中等粘性,耐化学性良好,高强度,耐燃油性,注射成型)
IEC60112600 V
POM均聚 德国pal PALFORM® R H 10
(高强度,耐化学性良好,抗撞击性高,抗溶剂性,耐燃油性,粘度高,注射成型)
IEC60112600 V
温馨提示
1.有关“漏电起痕指数(解决方案A) POM均聚”类数据资讯最多展示10条.更多牌号应用数据请向客服索取。
2.有关“POM均聚塑料颗粒”类数据的实时性及更多塑料颗粒行情敬请关注我们的资讯动态.
  • 相关数据
  • 热搜商品
  • 热点标签